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Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie
UMR 7590 - Sorbonne Université/CNRS/MNHN/IRD

Plate-forme de microscopie électronique (MEB-FIB)

© IMPMC - Cécile Duflot

 

La plateforme de Microscopie Electronique MEB-FIB de l’IMPMC propose son expertise en matière de microscopie Electronique à Balayage (MEB) et Faisceau d’Ions Focalisé (FIB) à l’ensemble des chercheurs, industriels, ayant des problématiques de caractérisation des matériaux à l’échelle du micron et du nanomètre. Il est possible de caractériser la morphologie, la composition élémentaire ainsi que les structures tridimensionnelles de multiples matériaux.

 

A ce titre, la plateforme dispose de deux microscopes électroniques :


Ainsi que des appareils de préparations d’échantillons :

  • Leica EM CPD300 (Déshydratation par point critique)
  • Leica EM SCD500 (Métalliseur/Evaporateur Carbone Haute Résolution)

 

Responsable : Imène Esteve (Imene.Esteve @ impmc.upmc.fr)
Tel : 01 44 27 52 21 ou 01 44 27 98 12
(Pour toutes demandes de formation, réservation ou développement)

Demande d'analyse FIB

Cécile Duflot - 30/05/18

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Traductions :

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