Plate-forme de microscopie électronique (MEB-FIB)
© IMPMC - Cécile Duflot
La plateforme de Microscopie Electronique MEB-FIB de l’IMPMC propose son expertise en matière de microscopie Electronique à Balayage (MEB) et Faisceau d’Ions Focalisé (FIB) à l’ensemble des chercheurs, industriels, ayant des problématiques de caractérisation des matériaux à l’échelle du micron et du nanomètre. Il est possible de caractériser la morphologie, la composition élémentaire ainsi que les structures tridimensionnelles de multiples matériaux.
A ce titre, la plateforme dispose de deux microscopes électroniques :
- un MEB-FEG Zeiss Ultra55 (Microscope électronique à Balayage) : voir le descriptif
- un FIB Zeiss Neon40EsB (Focused Ion Beam ou Faisceau d’Ion Focalisé) : voir le descriptif
Ainsi que des appareils de préparations d’échantillons :
- Leica EM CPD300 (Déshydratation par point critique)
- Leica EM SCD500 (Métalliseur/Evaporateur Carbone Haute Résolution)
Responsable : Imène Esteve (Imene.Esteve @ impmc.upmc.fr)
Tel : 01 44 27 52 21 ou 01 44 27 98 12
(Pour toutes demandes de formation, réservation ou développement)
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