Aller au contenu Aller au menu Aller à la recherche

accès rapides, services personnalisés
Rechercher
Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie
UMR 7590 - Sorbonne Université/CNRS/MNHN/IRD

Microscope électronique à balayage (MEB)

© Zeiss AG

La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique capable de produire des images et des analyses élémentaires en haute résolution de la surface d’un échantillon. Le MEB disponible à l’IMPMC est un Zeiss ULTRA55, doté d’une source électronique type FEG-Schottky : canon à émission de champ (cathode chaude) et équipé de la colonne électronique Ultra Haute Résolution Gemini®, boostée pour l’amélioration des performances à basse tension, permettant l’analyse d’échantillons à l’échelle nanométrique. Pour plus de détails techniques, veuillez consulter la fiche suivante.

Lire la Charte d’utilisation du Microscope Electronique à Balayage MEB-FEG Ultra55 et la signer

Version Fr

version En

Caratéristiques

 

Energie

    •    Tension variable en continu de 100 V à 30 kV

Résolution

    •    1,1 nm à 20 kV et 2,5 nm à 1 kV

Courant de sonde

    •    4 pA à 20 nA

Détecteurs

    •    Détecteur de type Everhart Thornley pour l’imagerie en électrons secondaires : SE2
Détecteur 4 quadrants pour l’imagerie en électrons rétrodiffusés haute tension : AsB
    •    Détecteur annulaire haute performance pour la détection des électrons secondaires basse tension : In-Lens (dans la colonne)
    •    Détecteur annulaire avec grille filtrante en énergie pour la détection des électrons rétrodiffusés basse tension : EsB (dans la colonne)
    •    Détecteur d’électrons transmis imagerie BF/DF sur échantillons minces : STEM (rétractable)
    •    Microanalyseur EDS Bruker QUANTAX Résolution 123eV sur Mn pour l’analyse élémentaire X avec logiciel Esprit, Hypermap (cartographie X, profils, pointés), HSQuant analyse avec témoins (analyse X quantitative et semi-quantitative) mosaïques.

03/03/20

Traductions :

    Egalement dans la rubrique

    Zoom Science - De la carrière au temple : une histoire de circuit court sur l’île sanctuaire d’Apollon (Délos, Grèce)

    Délos, l’une des plus petites îles des Cyclades, connue dans l’Antiquité comme le berceau d’Apollon et Artémis, abrite un des plus grands sites archéologiques grecs. Le marbre est le matériau le plus abondant dans les vestiges, ce qui contraste avec la géologie de l’île qui est, pour l’essentiel, un...

    » Lire la suite

    Contact

    A. Marco Saitta

    Directeur de l'institut

    marco.saitta(at)sorbonne-universite.fr

     

    Bruno Moal

    Secrétaire général

    33 +1 44 27 52 17

    bruno.moal(at)sorbonne-universite.fr

     

    Jérôme Normand

    Gestion du personnel

    Réservation des salles

    jerome.normand(at)sorbonne-universite.fr

     

    Antonella Intili

    Accueil et logistique

    Réservation des salles

    antonella.intili(at)sorbonne-universite.fr

     

    Ouafa Faouzi

    Gestion financière

    gestionimpmc@impmc.upmc.fr (gestionimpmc @ impmc.upmc.fr)

     

    Cécile Duflot

    Communication

    cecile.duflot(at)sorbonne-universite.fr

    33 +1 44 27 46 86

     

    Expertiser une météorite

     

    Contact unique pour l'expertise de matériaux et minéraux

     

    Stages d'observation pour élèves de 3e et de Seconde

    feriel.skouri-panet(at)sorbonne-universite.fr

     

    Adresse postale

    Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie - UMR 7590

    Sorbonne Université - 4, place Jussieu - BC 115 - 75252 Paris Cedex 5

     

    Adresse physique

    Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie - UMR 7590 - Sorbonne Université - 4, place Jussieu - Tour 23 - Barre 22-23, 4e étage - 75252 Paris Cedex 5

     

    Adresse de livraison

    Accès : 7 quai Saint Bernard - 75005 Paris, Tour 22.

    Contact : Antonella Intili : Barre 22-23, 4e étage, pièce 420, 33 +1 44 27 25 61

     

     

    Fax : 33 +1 44 27 51 52