E-séminaire - In-situ transmission electron microscopy biasing and heating experiments of semiconducting nanowires for correlated studies and electrical contact formation - Martien den Hertog
Lundi 28 septembre 2020 à 10 h 30 - Visioconférence
Martien den Hertog - Institut Louis Néel
Abstract
In this seminar, I will present experiments we perform using in-situ transmission electron microscopy with both biasing and heating experiments on semiconducting nanowires.
In my group, we fabricate SiN membrane-chips. After rapidly presenting the fabrication methods of such membrane-chips, I will show examples of studies involving electrically contacted nanowires on a SiN membrane compatible with transmission electron microscopy, where we can distinguish:
- Ex-situ studies correlating the opto-electrical properties of a single nanowire with its structural properties such as the crystal structure, composition and dimensions that are measured by TEM-based characterization.
- In-situ Joule heating studies on a solid state metal-semiconductor reaction induced by heating where the evolution of the reaction is directly visualised by TEM.
- In-situ electrical biasing experiments where the variation of holographic measurements under bias can be used to analyse the behaviour of Schottky contacts and extract dopant concentrations.
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